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德国BYK微型桔皮仪_AW-4824 micro-wave-scan

用于曲面和小部件测量桔皮与鲜映性
类别：桔皮仪 作者：华丰科技 日期：2013-07-18 18.38.48 点击：1143 评论：0

德国BYK桔皮仪 II_AW-4846 wave-scan II

专门针对高光泽表面
类别：桔皮仪 作者：华丰科技 日期：2013-07-18 18.31.12 点击：954 评论：0

德国BYK桔皮仪dual_AW-4840 wave-scan dual

测量高光泽至中光泽涂层表面的桔皮和鲜映性
类别：桔皮仪 作者：华丰科技 日期：2013-07-18 18.08.25 点击：1655 评论：0
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